EMIテストデバイス
プローブ
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- MFAセット
- RF 1セット
- XF 1セット
| Model | 周波数 | メーカー | 特長 |
|---|---|---|---|
| RF1 近磁界プローブセット （H Field ＋ E Field) |
30MHz－3GHz | LANGER | ワイドレンジ ピックアップしたノイズはスペアナで簡単チェック デモ依頼承ります |
| RF2 近磁界プローブセット | 30MHz－3GHz | LANGER | 25mmと10mmのループプローブ 広いエリアで0.5-10cmの距離で 測定できます。 |
| MFA 近磁界プローブセット | 1MHz - 6GHz | LANGER | SMA/ICピン測定用 ストリップライン：200µm, 50µm（プローブ距離） トライキングジェネレータレベル：100dBµV RBW： 1MHz VBW： 100kHz デモ依頼承ります |
| XF1 近磁界プローブセット | 30MHz－6GHz | LANGER | プローブヘッドがシールドされているので 磁場を持つ電気的アセンブリ、部品、ICピンなどの 測定に最適です |
| LF1 近磁界プローブセット | 100kHz－50MHz | LANGER |
ハイインピーダンスプローブ TK9420 (Schwarzbeck)
| Model | 周波数 | メーカー | 特長 |
|---|---|---|---|
| TK 9420 | 10kHｚ－3MHz | Schwarzbeck | CISPR14 対応 10ｋV DC, 2ｋV AC, 1500Ω |
ペン型タイプのプローブ。PCB基板に直接タッチして流れている電流を測定します。 ほとんどのオシロスコープで利用できます。
電流プローブ I-prober 520 （Aim TTi）
| Model | 周波数 | メーカー | 特長 |
|---|---|---|---|
| I-Prober 520 | DC-5MHz | Aim TTi | PCB基板等の測定に最適。 ケーブル測定用アタッチメント付属。 |
アメリカETS社製のプローブも車載試験、近磁界試験など用途に合わせてお選びいただけます。
カレントプローブ .94111-1 （ETS Lindgren)
| Model | 周波数 | メーカー | 特長 |
|---|---|---|---|
| .94111-1 | 1MHｚ－1GHz | ETS Lindgren | 31.75mmウインドウ |
| I-Prober 520 カレント・フィールドプローブ |
DC - 5MHz | Aim TTi | 基板に直接プローブを当てて 電流値をチェック |
| F-120-8 BCI試験用プローブ |
10ｋHz - 400MHz | FCC | ISO 11452-4他、自動車メーカーの プライベート規格に基づいた試験に 最適。 |
| F-140 BCIプローブ |
10ｋHz－1000MHz | FCC | CW入力定格100W SAE J15447試験に最適 |
ローノイズプリアンプ ＭＬＡシリーズ
低ノイズ電源と高ゲイン／低ノイズフィギュアモジュールのコレボレーションによりEMI測定に最適なフィーチャーを実現しました。
【特長】
◆ ニーズに合ったカスタマイズ
◆ 周波数範囲、ゲイン、ノイズフィギュアを自由に選択
◆ 電源一体型／分離型／アンテナ一体型の選択が可能
◆ 入出力コネクタの選択が可能
◆ ローコスト
【特長】
◆ ニーズに合ったカスタマイズ
◆ 周波数範囲、ゲイン、ノイズフィギュアを自由に選択
◆ 電源一体型／分離型／アンテナ一体型の選択が可能
◆ 入出力コネクタの選択が可能
◆ ローコスト
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- 電源一体型
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- アンテナ一体型
| Model (ラインナップ例） | 周波数 | ゲイン／ノイズフィギュア | 備考 |
|---|---|---|---|
| MLA-10k01-27 | 10kHｚ－1GHz | 27dB Typ. / 1.6dB | 電源一体型 |
| MLA-10k01-B01-35 | 10kHｚ－1GHz | 35dB Typ. / 1.6dB | 電源一体型 |
| MLA-30M03-B1-35 | 30MHｚ－3GHz | 40dB Typ. / 3.4dB | 電源一体型 |
| MLA-100M08-B02-40 | 100MHｚ－8GHz | 33dB Typ. / 1.8dB | 電源分離型 |
| MLA-0818-B02-38 | 8GHｚ－18GHz | 38dB Typ. / 2.0dB | 電源分離型 |
| MLA-100M18-B02-38 | 100MHｚ－18GHz | 38dB Typ. / 2.8dB | 電源分離型 |
EMCスキャナ
付属の優れたソフトウェアにより、製品自身からのノイズ 、基板上ノイズを視覚的に検証できます。
設計、品質評価、サービスまで幅広い段階で使えます。
欧州・北米を中心にワールドワイドな導入実績。
家電製品・半導体基板・携帯電話・車載電装品・軍用品など、多くの製品群に活用できます。
設計、品質評価、サービスまで幅広い段階で使えます。
欧州・北米を中心にワールドワイドな導入実績。
家電製品・半導体基板・携帯電話・車載電装品・軍用品など、多くの製品群に活用できます。
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- RSシリーズ
- HRシリーズ
- ソフトウェアイメージ
| Model | 周波数 | メーカー | 主な用途 |
|---|---|---|---|
| RS321 | スペアナに依存 | Detectus AB | 最小ステップサイズ 1mm スピード 5000mm/min 測定容量 300 ｘ 200 ｘ 100 (mm) XYZ軸動作 300 ｘ 200 ｘ 100 (mm) デモ依頼承ります |
| RS644 | スペアナに依存 | Detectus AB | 最小ステップサイズ 1mm スピード 5000mm/min 測定容量 600 ｘ 400 ｘ 400 (mm) XYZ軸動作 600 ｘ 400 ｘ 200 (mm) |
| HR-1 | スペアナに依存 | Detectus AB | 高分解能タイプ プローブとプリアンプを付属 最小ステップサイズ 0.025mm 測定容量 190 x 140 x 80 mm XYZ軸動作 535 x 690 x 600 mm |
クランプ
| Model | 周波数 | メーカー | 主な用途 |
|---|---|---|---|
| AMZ 41A 吸収クランプ |
30 - 1000MHz | TESEQ | CISPR 13 &14, CISPR 16 試験 |
| CIP 9136A 電流注入クランプ |
10kHz - 400MHz | TESEQ | BCI試験、ISO11452-4, RTCA/DO-160 sec.20, MIL-STD 461試験 |
| KEMZ 801A EMクランプ |
10ｋHz - 1000MHz | TESEQ | IEC 61000-4-6 |
